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电子元器件损坏特性总结(转)
发表日期:2024-9-21

    一切电子装置【zhì】如洗衣【yī】机、冰箱、空调、计【jì】算机【jī】、仪器、仪表、汽【qì】车【chē】电子等都是形形【xíng】色色的,不同【tóng】功能的电子电【diàn】路组成。根据【jù】张飞第三大定律组成电子电路的基本单【dān】位是电子元器件,这些器件都是以硬件的形式存【cún】在的【de】,它【tā】们都有各【gè】自的电气参数,如【rú】电压电流及功【gōng】率【lǜ】特性【xìng】等【děng】,因【yīn】此【cǐ】,元【yuán】器件是最易损坏的物【wù】品,但其故障却是有规【guī】律可循的。一般的故障【zhàng】表现为电气参数损坏和物理损【sǔn】坏两类,那么电气参数的【de】损坏又包含电压电流超过额【é】定值导致的【de】损坏,物理的损坏包括断裂【liè】,变形【xíng】,阻值参【cān】数变【biàn】化等表现形【xíng】式。

一、电阻损坏的特点

    电阻是【shì】电器设备中数量最多的【de】元【yuán】件,但不【bú】是损坏【huài】率最高的元件。电阻损坏以开路最常见,阻【zǔ】值变大较少见,阻值变【biàn】小十【shí】分少见。常见的有碳膜电【diàn】阻、金属【shǔ】膜电阻、线绕【rào】电阻和保险【xiǎn】电阻几【jǐ】种。

    前两种电阻应用最广,其【qí】损坏的【de】特【tè】点:一是低阻值(100Ω以下)和高阻值(100kΩ以上)的损坏【huài】率较高,中间阻值(如几百【bǎi】欧到几十千欧【ōu】)的【de】极【jí】少损坏;二是低阻值电阻损坏时往往是烧【shāo】焦【jiāo】发【fā】黑,很容【róng】易【yì】发【fā】现,而高【gāo】阻值【zhí】电阻【zǔ】损坏时很少有痕迹。

    线绕电阻一般用作大电流限流,阻【zǔ】值【zhí】不大。圆柱形线绕电【diàn】阻烧【shāo】坏时有【yǒu】的会发黑或表面爆【bào】皮、裂纹【wén】,有【yǒu】的没有痕【hén】迹。水泥电阻是线绕电阻的【de】一种,烧坏时可能会断裂,否【fǒu】则也没有【yǒu】可见痕迹。保险电阻烧【shāo】坏时【shí】有的表面会【huì】炸掉一块皮【pí】,有的也没有什么【me】痕迹,但绝不会烧【shāo】焦发黑。根据以上特点,在检【jiǎn】查【chá】电阻时可有所【suǒ】侧【cè】重,快速找出损坏【huài】的电【diàn】阻。

二、电解电容损坏的特点

电【diàn】解电【diàn】容在电器设【shè】备中的【de】用量很大,故障率很高。电解电容损坏有【yǒu】以【yǐ】下几种表【biǎo】现:

一是完全失去容量或容量变小;

二是轻微或严重漏电;

三是失去容量或容量变小兼有漏电。

查找损坏的电解电容方法有:

(1)看:有【yǒu】的电容损【sǔn】坏时会漏【lòu】液【yè】,电容下面的电路板表面甚至【zhì】电容外【wài】表都会有一层油渍,这【zhè】种电容绝对不能再用【yòng】;有【yǒu】的电容损坏后会鼓起,这种【zhǒng】电【diàn】容也不能继【jì】续使用;

(2)摸:开机后有些漏【lòu】电严重的电解电【diàn】容会【huì】发热,用手指触摸时甚至会烫手,这种电容必【bì】须更换【huàn】;

(3)电解电【diàn】容内部【bù】有电解液,长时间烘【hōng】烤会使电解液【yè】变【biàn】干,导致电容量减小【xiǎo】,所【suǒ】以要重点检查散热片【piàn】及大功率元器件附近的电容,离其越近,损【sǔn】坏的可能性就【jiù】越大。

三、二极管、三极管等半导体器件损坏的特点

三极管【guǎn】的损坏一般是PN结击【jī】穿或开路,其中以击【jī】穿【chuān】短路居多。此【cǐ】外还有两种【zhǒng】损坏表现:

一是热稳定性变差,表现为【wéi】开机时正常,工【gōng】作一【yī】段时间后,发【fā】生软击穿【chuān】;
另一种是【shì】PN结的特性变【biàn】差,用万用表R×1k测,各【gè】PN结均正常,但上机后不【bú】能正常工作,如果用R×10或R×1低量【liàng】程档测,就【jiù】会发现【xiàn】其PN结正向阻值比正【zhèng】常值大。

测量二、三极管可以用指针万用表在路测量,较准确的方法是:

将【jiāng】万用【yòng】表置R×10或R×1档(一般用R×10档,不明显时再用【yòng】R×1档)在路测二、三极管的【de】PN结正、反【fǎn】向电阻,如果正【zhèng】向【xiàng】电阻不太【tài】大(相对正【zhèng】常值),反向电阻足够大(相对正向值),表明该PN结正常【cháng】,反之【zhī】就【jiù】值得怀【huái】疑,需焊下后再测。这是因为【wéi】一般【bān】电路的二、三【sān】极管外围电阻大【dà】多在【zài】几百、几千欧以上,用万用表【biǎo】低【dī】阻值档在路测量,可以基本忽【hū】略外【wài】围【wéi】电阻对PN结【jié】电阻【zǔ】的【de】影响【xiǎng】。

四、集成电路损坏的特点

集成电路内部结【jié】构【gòu】复杂,功能【néng】很多,任【rèn】何一【yī】部【bù】分损【sǔn】坏都无法正常工【gōng】作。集【jí】成电路的损坏也【yě】有两种:彻底损【sǔn】坏、热稳定【dìng】性不良。彻底损坏时,可将其拆下,与【yǔ】正常同型号集成电【diàn】路对比测其每一引脚【jiǎo】对地的正【zhèng】、反向【xiàng】电阻,总能找到其中一【yī】只或几【jǐ】只【zhī】引脚阻【zǔ】值【zhí】异【yì】常。对热【rè】稳定性差的,可以在设备工作时,用无水酒精冷【lěng】却被怀疑的集【jí】成电路【lù】,如果故障【zhàng】发生【shēng】时【shí】间推迟或不再发生故障【zhàng】,即可判定。通常【cháng】只能更换新集成电路来排除。

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